In-Circuit-Test

Erweiterungsmodul

R&S TS-PICT

PICT CUT

Key Facts: 

  • In-Circuit-Test Erweiterungsmodul in Verbindung mit TS-PSAM und VXTS SM160
  • Prüfung von R, L, C, Dioden, Transistoren, parallel R-C
  • Guarded-Widerstandsmessungen (3-, 4-, 6-Draht)
  • Guarded Impedanzmessungen (3-, 4-, 6-Draht)
  • Messfrequenzen 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz für Impedanzprüfungen
  • Niedrige Stimulationsspannung zur Isolation von Dioden und ICs

Für weitere Informationen besuchen Sie gerne die Webseite von Rohde & Schwarz

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