Testsysteme

GT4210

bis zu 2080 Testpunkte

19-Zoll Grundsystem mit 20 Steckplätzen und zusätzlichem Einbauraum dank Wechselkassetten.

Es ermöglicht:

• In-Circuit-Test
• Funktionstest
• Boundary Scan
• Flashen / Programmieren
• Paralleltest bis zu 2x 800 Testpunkte

GT4220

bis zu 4640 Testpunkte

19-Zoll Grundsystem mit 36 Steckplätzen und zusätzlichem Einbauraum dank Wechselkassetten.

Es ermöglicht:

• In-Circuit-Test
• Funktionstest
• Boundary Scan 
• Programmierung / Flashen
• Paralleltest bis zu 2x 2080 Testpunkte

GT5120

noch kompakter und bis zu 2080 Testpunkte

Sehr kompaktes 19-Zoll Grundsystem mit 20 Steckplätzen.

Es ermöglicht:

• In-Circuit-Test
• Funktionstest
• Boundary Scan
• Flashen / Programmieren
• Paralleltest bis zu 2x 800 Testpunkte

LEISTUNGSHALBLEITER-TESTSYSTEME

statischer und dynamischer Test

Bspw. für Dioden, IGBTs, MOSFETs...

• Hohe Ströme bis zu 10.000 A
• Hohe Spannungen bis zu 3.000 V
• Kurze Pulse von >10 µs